IGBT功率模塊是能源變換與傳輸?shù)暮诵钠骷?,被稱為電力電子裝置的“CPU”,作為國家戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè),在電源、逆變器、中大功率電機(jī)驅(qū)動等方面有廣泛的應(yīng)用。
為了追求更高的可靠性和穩(wěn)定性,中恒微半導(dǎo)體針對電機(jī)驅(qū)動、UPS電源、感應(yīng)加熱等領(lǐng)域,推出了DriveZ62封裝的IGBT功率模塊,通過以下方式實現(xiàn)產(chǎn)品性能提升及嚴(yán)謹(jǐn)有效的品質(zhì)管控:
?選用新型工藝功率芯片降低模塊功耗;
?應(yīng)用高可靠性工藝封裝設(shè)計和材料;
?采用可追溯性管理進(jìn)行質(zhì)量控制。
產(chǎn)品概要
產(chǎn)品特點
1.1 低飽和壓降,低開關(guān)損耗
?溝槽柵型場截止型IGBT芯片有助于實現(xiàn)模塊的低功耗化。
1.2 通過提高IGBT工作上限溫度,提高產(chǎn)品的功率密度
?實現(xiàn)工作結(jié)溫范圍-40 ~ 150℃,結(jié)溫上限175℃。
?提升上限溫度,提高了產(chǎn)品的功率密度,提高了散熱設(shè)計的自由度。
1.3 標(biāo)準(zhǔn)封裝,確保兼容性
?標(biāo)準(zhǔn)封裝尺寸,可與市場上同類模塊兼容
主要規(guī)格
性能特性
IGBT功率模塊作為大功率的開關(guān)型器件,其開關(guān)特性與散熱能力是關(guān)注的重點。本文將以2B450M120S1P封裝模塊為例,簡單介紹該封裝的電氣特性和功耗情況。
電氣特性
IGBT模塊的飽和壓降VCE sat和開關(guān)損耗ESW是相互制約的因素,但又共同影響著功耗情況。因此,如何根據(jù)應(yīng)用情況權(quán)衡兩者間的關(guān)系,是設(shè)計需要著重關(guān)注的要點之一。下圖所示是中恒微半導(dǎo)體與市場上主流A公司相同封裝模塊的綜合性能對比圖,從開關(guān)損耗和飽和壓降的平衡設(shè)計考慮,中恒微半導(dǎo)體的模塊都占有較大優(yōu)勢。
(圖2 綜合性能對比圖)
且該封裝模塊具備良好的開關(guān)特性,如圖3所示,開關(guān)損耗對比市場主流產(chǎn)品,功耗降低了約10%。并且在1Ω的驅(qū)動電阻下,峰值參數(shù)仍處于安全工作范圍,確保了產(chǎn)品的可靠性。有效控制開關(guān)噪聲的同時提高了開關(guān)速度,有助于降低終端用戶機(jī)體散熱結(jié)構(gòu)、驅(qū)動電路及控制程序的設(shè)計難度。
(a 開通特性曲線)
(b 關(guān)斷特性曲線)
(圖3 2B450M120S1P開關(guān)特性曲線圖@Tj=150℃,Rg=1Ω)
功耗情況
研究表明,IGBT器件的結(jié)溫每升高10℃,失效率就會增加一倍,并且絕大多數(shù)器件失效都是由于工作結(jié)溫過高導(dǎo)致的。因此,控制功率模塊的工作結(jié)溫是設(shè)計中需要重點考慮的又一因素。示例模塊的計算結(jié)果表明,在母線電壓600V,導(dǎo)通電流225A,頻率10kHz的半載工況下,示例模塊的耗散功率遠(yuǎn)低于市場上A公司的產(chǎn)品,如圖4所示。
(圖4 總損耗對比圖)
根據(jù)結(jié)溫計算公式,總損耗的降低可以有效降低芯片的結(jié)溫,芯片的溫度可以受到有效控制,保證了芯片的安全工作范圍,有利于簡化應(yīng)用端的散熱設(shè)計。
可靠性實現(xiàn)
對于大功率的應(yīng)用來說,模塊的可靠性是重點考量的要素之一,為提高這一指標(biāo),中恒微半導(dǎo)體通過采用:
?高可靠性工藝體系
?高自動化生產(chǎn)設(shè)備、工藝
進(jìn)行模塊制造,提高了產(chǎn)品的可靠性的同時也保證了產(chǎn)品性能的一致性。
(圖5 DriveZ62裝配結(jié)構(gòu)圖)
信號引線鍵合工藝設(shè)計
該封裝模塊是并聯(lián)半橋結(jié)構(gòu),其性能高度依賴于工作條件下的均流實現(xiàn),為此,中恒微半導(dǎo)體采用了對稱型的布局方式,高度對稱并聯(lián)部分的電路設(shè)計,從而實現(xiàn)均流特性。另外,為提高開關(guān)過程的穩(wěn)定性,端子引線鍵合采用先連接至DBC銅層再連接到柵極的方式,避免了開關(guān)電流不穩(wěn)定造成門極振蕩的情況,并有效降低了驅(qū)動電感。
功率端子超聲焊接工藝
功率端子作為應(yīng)用中重要電氣接口,并且是最容易產(chǎn)生疲勞失效的部位,DriveZ62封裝摒棄傳統(tǒng)的釬焊焊接工藝,采用超聲焊接工藝完成電氣連接,避免了連接材料之間因CTE的差異產(chǎn)生疲勞失效的問題,大幅度提高了器件的可靠性。
(圖6 端子結(jié)構(gòu)及焊接示意圖)
(圖7 經(jīng)過溫度循環(huán)測試后端子結(jié)合位置破壞情況示意)
2.1 功率端子結(jié)構(gòu)設(shè)計
?對稱型的結(jié)構(gòu)設(shè)計,使模塊安裝時的應(yīng)力均勻分布,其折彎處更加可靠。
?應(yīng)力緩沖結(jié)構(gòu)的設(shè)計,減小了安裝過程端子引腳所受的結(jié)構(gòu)應(yīng)力。
2.2超聲焊接工藝
?更高的過流能力。根據(jù)計算,超聲焊接的電流耐受力是鋁線鍵合的3.5倍。
?降低熱機(jī)械應(yīng)力。優(yōu)化了模塊的抗沖擊、抗振動特性。
焊片工藝
傳統(tǒng)的焊膏工藝受限于印刷鋼網(wǎng)和焊膏均勻度的限制,焊料層BLT難以控制,并存在清洗工藝的難點與不穩(wěn)定,保證空洞率的穩(wěn)定性更是成為焊接過程中需要考慮的重要因素。為避免這一現(xiàn)象,中恒微半導(dǎo)體采用了全焊片工藝,既簡化了回流焊接的工藝流程,又保證了焊料層的可靠性和穩(wěn)定性。
3.1 使用焊片可以有效控制焊料層厚度,控制模塊熱阻
3.2 減少焊層空洞率
(圖8 采用焊片焊接的DBC下方焊接層空洞掃描圖)
總結(jié)
中恒微(ZHMSEMI)半導(dǎo)體推出的DriveZ62封裝IGBT功率模塊具備優(yōu)良的電氣性能、高可靠性及寬兼容性,適用于電機(jī)驅(qū)動、UPS電源、感應(yīng)加熱等應(yīng)用領(lǐng)域,可以替換市場上的同類模塊,為工業(yè)市場提供了高可靠性IGBT功率模塊的全新選擇。